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| 제품사진 | |
|---|---|
| 기기명(한글) | Schottky 전자현미경 (FE-SEM2) |
| 기기명(영문) | Schottky Field Emission Scanning Electron Microscope (FE-SEM) |
| 모 델 | JSM-7610F |
| 제작사 | JEOL |
| 도입시기 | 2016.09 |
| 담당자 | 기과연 / 이은정 (4435) |
| 장소 | A동 230호 |
| 사 용 료 |
[교내유저]
FE-SEM : 30,000원/시간 EDS추가 : 30,000원 Coating : 20,000원/ 회
교내 유저 외 50,000원/시간 |
| 특기사항 |
FE-SEM (JSM-7610F) 1. Resolution : 1.0nm guaranteed at 15kV 1.3nm guaranteed at 1kV 3.0nm guaranteed at 5nA, 15kV 2. Magnification : x25 to x1,000,000 3. Image type : Secondary-electron Image Backscattered-electron Image(Compo, Topo and Shadow) 4. Accelerating voltage : 0.1 to 30KV 5. Probe current : 200nA at 15kV, 400nA at 30kV 6. Electron Gun : In-lens Schottky field-emission gun |
| 원리 | |
| 유저그룹 |
<가나다순> 김경곤 교수님/ 김동욱 교수님/ 김동하 교수님/ 김명화 교수님/ 김병권 교수님/ 김우재 교수님/ 김인영 교수님/ 김진흥 교수님/ 남관우 교수님/ 문회리 교수님/ 박소정 교수님/ 박재홍 교수님/ 서동석 교수님/ 이상욱 교수님/ 이영미 교수님/ 정병문 교수님/ 조윌렴 교수님/ 현가담 교수님/ |
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