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| 제품사진 | |||||||
|---|---|---|---|---|---|---|---|
| 기기명(한글) | 전계방출주사전자현미경(FE-SEM 1) | ||||||
| 기기명(영문) | Field Emission Scanning Electron Microscope (FE-SEM) | ||||||
| 모 델 | JSM-6700F | ||||||
| 제작사 | JEOL사 | ||||||
| 도입시기 | 2005. 06. | ||||||
| 담당자 | 기초과학연구소 / 이은정 (4435) | ||||||
| 장소 | A동 219-1호 | ||||||
| 사 용 료 |
EDS 추가시 : 15,000원
교내 유저 외 30,000원 |
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| 특기사항 |
Resolution : 1.0nm(15kV), 2.2nm(1kV) Electron gun : Cold field emission electron gun Accelerating voltage : 0.5kV to 20kV Magnification : X25 to X650,000 |
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| 원리 |
전계방출주사전자현미경은 일반적인 현미경인 열전자방출방식의 Gun과 달리 electron source인 filament metal 표면에 강한 electric filed를 걸어주어 전자를 방출시키는 gun type의 현미경이다. 이러한 현미경의 가장 큰 특징은 high resolution의 image를 관찰 할 수 있다는 장점과 쉽게 electron beam의 damage를 입는 시료들에 대해서 낮은 가속전압에서 비교적 고배율관찰이 용이하다는 점이다. |
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| 유저그룹 |
<가나다순> 김경곤 교수님/ 김동하 교수님/ 김명화 교수님/ 김우재 교수님/김인영 교수님/ 김진흥 교수님/ 박소정 교수님/ 박재홍 교수님/ 박지훈 교수님/ 윤주영 교수님/ 이상기 교수님/이상욱 교수님/ 이영미 교수님/ 정병문 교수님/ 조윌렴 교수님/ 현가담교수님 |
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